Contrôle par Fluorescence X

La spectrométrie de fluorescence X (XRF pour X-ray fluorescence) est une méthode d’analyse chimique non destructive utilisant une propriété physique de la matière. Lorsque l’on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière instable réémet de l’énergie sous la forme de photons ; c’est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X. Ces photons vont être détectés par un compteur SSD « Silicon Drift Detector ».

Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition de l’échantillon, en analysant ce spectre, on peut en déduire la composition élémentaire, c’est-à-dire les concentrations massiques en éléments.

Les appareils d’analyse portables PMI sont généralement utilisés pour analyser et identifier les nuances métallurgiques dans le cadre de :

• Contrôle PMI (identification positive des matériaux)
• L’assurance qualité
• Contrôle entrée matière pour les vérifications de vos CCPU
• L’analyse des éléments légers Mg, Al, Si, P, S et analyse des traces
• La sécurité et l’entretien des équipements

Schéma de principe de la méthode :

Caractéristiques de l’XMET 8000 Expert :

• Tube à rayons X : 50kV
• Filtres pour tube à rayons X: disque porte-filtres à 6 positions
• Détecteur : Silicium à diffusion de grande surface
• Température max. échantillon : 100ºC ou 400ºC avec fenêtre résistante à la chaleur HERO™
• Indice IP54
• Étalonnages : Paramètres fondamentaux (FP) + sélection automatique d’étalonnages empiriques (traçabilité par matériaux de référence certifiés)
• Caméra intégrée
• Collimateur
• 6 positions filtres pour une analyse optimisée de tous les éléments du Mg à l’U